Sie können jetzt ALLE Einzeltests auf ein externes Referenzteil laden oder ein ganzes Programm auf die Ergebnisse des AT3600 laden.
Durch die Veröffentlichung des neuen dotNET AT-Editors konnten wir allen verfügbaren Tests eine Lastkompensation hinzufügen.
Auf diese Weise können Sie das Rohergebnis des AT5600 so skalieren, dass es einer extern gemessenen Menge entspricht, indem Sie ein „goldenes Musterteil“ verwenden, das während der Lastkompensation eingebaut wurde.
Dies kann hilfreich sein in Fällen von
A) Tests mit sehr kleinen Signalen oder sehr kleine Messungen am unteren Ende des Messbereichs, z. B. 0–10 Milliohm für den Widerstand.
B) Tests, bei denen das Ergebnis innerhalb der veröffentlichten Gerätespezifikation liegt und stabil ist, Sie die Zahl aber anhand eines externen Testgeräts normalisieren möchten.
C) Bestimmte Fälle, in denen Sie eine bessere Ergebniskonsistenz zwischen AT3600 und AT5600 erzielen möchten, z. B. Überspannung, bei der das Ergebnis eine Eigenschaft der Einheit und des zu prüfenden Geräts ist.
Bearbeiten Sie mit dem AT-Editor den Test, den Sie kompensieren möchten.
In diesem Beispiel haben wir ein Teil mit einem Widerstand von 0,543 Ohm, daher haben wir den externen Messwert als unseren extern gemessenen Referenzwert in das Dialogfeld eingegeben.
Sobald das Programm auf den AT5600 geladen ist, wird der übliche Kompensationsbildschirm für die Kurzschluss- und Leerlaufkompensation angezeigt, jetzt jedoch mit einer dritten aktivierten Option zur Lastkompensation.
Die Kurzschluss- und Leerlaufkompensation wird wie zuvor auf die normale Weise durchgeführt.
Folgen Sie beim Aufrufen des Bildschirms „Lastkompensation“ den Anweisungen, passen Sie Ihr goldenes Messteil an und drücken Sie „RUN“.
Das Gerät misst den goldenen Teil und skaliert die Ergebnisse aller Ihrer nachfolgenden Testläufe so, dass sie mit der Goldprobenmessung übereinstimmen, die Sie in das Testprogramm programmiert haben.
Die Lastkompensations-Offsets (wie auch die OC- und SC-Kompensation) werden im nichtflüchtigen Speicher des Geräts gespeichert. Dieser kann beliebig oft entfernt oder neu gemessen werden.