I _AC1 : La señal de prueba altera el voltaje del transistor, cambiando su capacitancia y afectando la medición.

I _AC2 : La señal de CA del medidor LCR se filtra en la fuente de polarización de CC a través de la línea de carga imperfecta del transistor, lo que provoca corrientes de error que varían con la polarización de CC.

I _AC3 : La capacitancia entre la ruta de CC y tierra desvía la corriente de la medición LCR

1) El devanado de detección detecta la señal de prueba

2) Un bucle de control de alta ganancia inyecta una señal de CA a través del inductor.

3) Lleva el voltaje de CA a través del inductor hacia cero.