确认 SCREEN 或 CORE 连接完整性

在进行 Hi-Pot 测试之前，如何确保我的屏幕或核心连接良好？

背景

HPAC 测试通常在连接在一起的所有初级绕组和所有次级绕组之间进行。
在执行 HPAC 测试之前，可以使用 DC R 测试来确认连接是否良好，以确保任何 HPAC PASS 有效。

HPAC 还可用于验证绕组与屏蔽或磁芯之间的隔离。
但是，如果在 HPAC 测试期间未正确连接屏幕或核心，AT5600 可能会给出错误的 PASS，因为由于没有与屏幕或核心的连接，该装置将（正确）测量非常低的电流。
由于屏蔽（或磁芯）连接到单个节点，因此很难确认屏蔽或磁芯已连接，因为您无法像通过具有 2 个连接的标准绕组那样执行 DC R 测试。

问题？

在执行HPAC之前，用户如何确认屏幕或核心连接良好？
特别是因为 HPAC 测试不允许对测试设置下限。

回答！

即使屏蔽或磁芯与绕组良好隔离，屏蔽（或磁芯）与绕组之间仍然存在特征电容。
我们可以使用电容测试来测量这一点，这将允许设置上限和下限。
如果连接不良/丢失，则不会产生电容。
在连接良好的情况下，会有可测量的稳定的特性电容。

工作示例

为了在 HPAC 测试之前验证连接的完整性，可以在测试程序中添加绕组间电容测试 (C TEST)。
在这里，我们将在 E 芯层压变压器 – TCT40-01E07AB 上演示这一点。
这是一个带有铁芯连接的两绕组变压器。
磁芯还连接到测试节点，因为测试程序将包括绕组和磁芯之间的 HPAC 测试。

A - 在 HPAC 之前添加 CAP 测试

在测试程序上使用C测试时，请遵循推荐的频率和测试电压测试条件。（参见用户手册 7.12 C 测试）

1. 最初将测试频率设置为 10 kHz 和 5 V，因为这些信号通常会给出可重复的电容值。

2. 设置C 测试的High 和Low 端子。
在本例中，我们使用初级和次级作为高端子，并使用磁芯作为低端子。限制可以设置得很宽，因为屏幕或核心的错误连接会导致很大的错误

3. 使用 AT 编辑器将测试程序保存并下载到 AT5600 上。

B - 执行开路和短路补偿

建议用户在开始任何测试之前执行开路和短路补偿。
为了获得 AT 系列绕组间电容测试的最佳性能，需要进行开路和短路补偿。

C - 运行测试程序并检查 C 测试结果的重复性

检查 C 测试的结果，看看是否获得可重复的测量结果。

您可能需要根据测量的电容范围调整测试程序中 C 测试参数的频率。

对测试程序所做的任何更改都需要在下载测试程序后重新进行补偿。

D - 在核心断开的情况下运行测试，以证明检测到不良连接

一旦 CORE 断开，C 测试的结果将指示“失败”，因为测量值远低于最小限值（此处为 66 pF 至 413 fF）。这证明下面的HPAC是无效的。

这表明，即使 HPAC 测试通过，C 测试也可以用来确认屏幕或核心上是否存在不良连接。